Miller D.J., Maroni V.A., Specht E.D., Chen Z., Aytug T., Paranthaman M.P., Zuev Y., Kropf A.J., Zaluzec N.J.
Specht E.D., Yao H., Jia Q.X., MacManus-Driscoll J.L., Maiorov B., Li Q., Solovyov V.F., Haugan T.J., Si W.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films thick, strain effects, defects, pinning, synchrotron, X-ray diffraction, nanoscaled effects, nanodoping, nanorods, nanoparticles, PLD process, substrate SrTiO3, substrate LaAlO3, TFA route, buffer layers, critical caracteristics, critical current density, mechanical properties, strain effects, aspect ratios
Miller D.J., Maroni V.A., Specht E.D., Paranthaman M., Aytug T., Cantoni C., Zhang Y., Zuev Y., Kropf A.J., Chen Z.*21, Zaluzec N.
Maroni V.A., Goyal A., Specht E.D., Paranthaman M., Aytug T., Christen D.K., Kim K., Cantoni C., Zhang Y., Selvamanickam V., Chen Y., Zuev Y.L.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, buffer layers, fabrication, RABITS process, substrate Ni-W, MOD process, microstructure
Miller D.J., Maroni V.A., Rupich M.W., Li X., Specht E.D., Christen D.K., Larbalestier D.C., Sathyamurthy S., Thompson J.R., Feenstra R., Xu A., Sinclair J.
Goyal A., Specht E.D., Aytug T., Christen D.K., Paranthaman M.P., Thompson J.R., Cantoni C., Zhang Y., Selvamanickam V., Chen Y., Zuev Y.L., Sinclair J.W.
Rupich M.W., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Goyal A., Specht E.D., Paranthaman M., Martin P.M., Li J., Gapud A.
Zhang W., Huang Y., Li X., Kodenkandath T., Rupich M.W., Schoop U., Verebelyi D.T., Thieme C.L., Siegal E., Holesinger T.G., Maiorov B., Civale L., Miller D.J., Maroni V.A., Li J., Martin P.M., Specht E.D., Goyal A., Paranthaman M.P.
Specht E.D., Holesinger T.G., Feenstra R., Puig T., Palau A., Obradors X., Gapud A.A., Feldmann D.M.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, RABITS process, grain boundaries, critical current density intergranular, grain size, microstructure, measurement technique, thickness dependence, fluorine process, percolation model, experimental results, critical caracteristics, fabrication
Specht E.D., Paranthaman M., Christen D.K., Leonard K.J., Thompson J.R., Kang S., List F.A., Martin P.M., Varela M., Pennycook S.J., Ijaduola A.O., Gapud A.A., Goyal A.(goyala@ornl.gov)
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, nanodots, defects columnar, pinning, microstructure, Jc/B curves, anisotropy, fabrication, experimental results, critical caracteristics
Specht E.D., Holesinger T.G., Christen D.K., List F.A., Gapud A.A., Feldmann D.M., Feenstra R.(feenstrar@ornl.gov)
Thieme C., Goyal A., Specht E.D., Xu Y., Christen D.K., Thompson J.R., Cantoni C., Varela M., Pennycook S.J.
Verebelyi D.T.(dverebelyi@amsuper.com), Schoop U., Thieme C., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Malozemoff A.P., Nguyen N., Siegal E., Buczek D., Lynch J., Scudiere J., Rupich M., Goyal A., Specht E.D., Martin P., Paranthaman M.
Specht E.D., List F.A.(fal@ornl.gov), Heatherly L., Leonard K.J., Sathyamurthy S., Kroeger D.M.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, magnetic properties
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.